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2015-5

粉體綜合測試儀的安裝，其實(shí)不難，相信通過本文我們的介紹，您一看便知!粉體綜合測試儀的安裝，對于工作環(huán)境和安裝位置，安裝人員都有一定的要求。具體如下：一、粉體綜合測試儀工作環(huán)境和安裝位置的要求1)溫度在5℃—40℃之間，相對濕度小于85%。2)環(huán)境整潔無煙塵。3)周圍沒有機(jī)械振動源或電磁干擾源。4)工作臺必須牢固、水平，高度適當(dāng)。二、粉體綜合測試儀安裝人員的要求本系統(tǒng)的安裝人員應(yīng)先閱讀本說明書，然后再進(jìn)行安裝。如有疑問請立即與廠家取得，請求廠家提供。粉體綜合測試儀拆箱步驟及注意...

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2015-5

粉末流動性測試儀的意義和測量參數(shù)

粉末流動性測試儀采用固定的接料筒配置不同出口孔徑之漏斗來解決不同粉體因粉體本身物性而流動性差，無法流動的現(xiàn)象。粉體結(jié)拱是生產(chǎn)中的常見問題，直接影響到粉體的流動特性，甚至影響到產(chǎn)品質(zhì)量。粉末的流動性測量在粉體工程設(shè)計(jì)中應(yīng)用范圍很廣，粉末的流動性對其生產(chǎn)、輸送、儲存、裝填以及工業(yè)中的粉末冶金、醫(yī)藥中不同組分的混合、在水泥廠中粉體的重力流動、農(nóng)林業(yè)中殺蟲劑的噴撒等工藝過程都具有重要的意義，因此粉體流動性能的測量就變得尤為重要。影響粉體流動性的因素非常復(fù)雜，粒徑分布和顆粒形狀對粉體的...

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2015-5

粉末流動性測試儀的三種分析方法

粉末流動性測試儀對于粉末流動性的檢測通常有三種方法：◆通過一個孔來流動◆剪切池◆固定的一個角度我們一一來看下：一、圓筒附件(通過一個孔來流動)zui常用的方法是：一定量的粉末通過已知大小孔徑的時間。當(dāng)粉末流過孔徑時，很多十分重要的因素影響我們對其判斷，甚至超過了粉末本身的性能特征，這些因素包含：測試設(shè)備的材質(zhì)、形狀;粉末堆積的直徑、高度和孔的形狀。藥典中建議使用圓形的容器，以增強(qiáng)粉末之間的流動，同時盡量減少容器材質(zhì)差異性對粉末流動性的影響。即使這樣，該技術(shù)也只適合非粘性粉末的...

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2015-5

絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試系統(tǒng)符合的標(biāo)準(zhǔn)要求

適用標(biāo)準(zhǔn)：GB/T22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；EN1149-1-1995《防護(hù)服靜電性能部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；GB/T1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與標(biāo)準(zhǔn)IEC93-1980等效）；FZ/T64013-2008《靜電植絨毛絨》；SJ/10694-2006《電子產(chǎn)品制造與應(yīng)用系統(tǒng)防靜電檢測通用規(guī)范》6.1及ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》要求制作。GB/T2439-2001《硫化橡膠或...

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2015-3

硅片電阻率測量方法，四探針方阻儀原理

本機(jī)采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確.按照硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTMF84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)...

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2015-1

粉末電阻率測試儀組成結(jié)構(gòu)功能說明

粉末電阻率測試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測試需要,參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。粉末電阻率測試儀適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。儀器直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強(qiáng)，更方便于用戶，而且價格低廉、實(shí)惠。配置不同的測試架可以對半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測量。適用于有機(jī)、無機(jī)粉末材料(包括納米級)的電阻率測量，特別適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測...

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2014-12

超細(xì)粉體的粉體特性和表面特征

超細(xì)粉體的性能與普通的顆粒是有很大的不同的。但顆粒的尺度但到亞微米級尤其是納微米級時，其表面的原子排列和電子分布結(jié)構(gòu)及晶體結(jié)構(gòu)較之普通顆粒均有明顯變化，產(chǎn)生了有別于普通顆粒的表面效應(yīng)、小尺寸效應(yīng)、量子效應(yīng)和量子隧道效應(yīng)，因此，在某些特殊場合會具有優(yōu)異的物理、化學(xué)及表面與界面性質(zhì)。當(dāng)顆粒尺寸處于微米級時，雖然去物理化學(xué)性能與普通顆粒的物理化學(xué)性質(zhì)相差不大，但微米級顆粒的比表面積大、表面能高，表面與界面性質(zhì)發(fā)生了很大的變化。如果現(xiàn)貨單一的微米級的超細(xì)粉的物理化學(xué)性能與普通顆粒相差...

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2014-12

接觸壓降測試儀如何檢測電能計(jì)量誤差

接觸壓降測試儀為測試產(chǎn)品提供恒定不變的測量電流，提高測量精度，保證了產(chǎn)品質(zhì)量。該儀器還具有上限電壓降參數(shù)設(shè)置，聲光報警功能。外形美觀大方，顯示清淅直觀，可靠性好等優(yōu)點(diǎn)。專業(yè)用于測試各種開關(guān)、繼電器、接觸器、接線座、接線連接器等接觸點(diǎn)兩端間的實(shí)際工作電壓降。是科研單位、計(jì)量測試部門、生產(chǎn)企業(yè)等單位的*儀器。由于電能計(jì)量綜合誤差過大是電能計(jì)量中普遍存在的一個關(guān)鍵問題，電能計(jì)量綜合誤差是由電壓互感器的合成誤差、電流互感器的合成誤差、電度表的誤差、電壓互感器二次導(dǎo)線壓降所引起的計(jì)量誤...

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